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江苏测试探针卡供应商

更新时间:2025-10-21      点击次数:3

    探针卡是将探针卡上的探针直接与芯片上的焊垫或凸块直接接触,引出芯片讯号,再配合周边测试仪器与软件控制达到自动化量测的目的。探针卡应用在IC尚未封装前,针对裸晶系以探针做功能测试,筛选出不良品、再进行之后的封装工程。因此,探针卡是IC制造中对制造成本影响相当大的重要制程之一。近年来半导体制程技术突飞猛进,超前摩尔定律预估法则好几年,现阶段已向32奈米以下挺进。目前产品讲求轻薄短小,IC体积越来越小、功能越来越强、脚数越来越多,为了降低芯片封装所占的面积与改善IC效能,现阶段覆晶(FlipChip)方式封装普遍被应用于绘图芯片、芯片组、存储器及CPU等。上述高阶封装方式单价高昂,如果能在封装前进行芯片测试,发现有不良品存在晶圆当中,即进行标记,直到后段封装制程前将这些标记的不良品舍弃,可省下不必要的封装成本。矽利康公司是一家专业从事测试解决方案的公司。公司拥有一批在半导体测试行业数十年的员工组成,从事探针卡设计,制造,研发;目前主要生产和销售的产品有晶圆测试探针卡,IC成品测试爪,以及测试系统解决方案。 测试探针卡生产厂家。江苏测试探针卡供应商

    晶圆探针卡又称探针卡,英文名称"Probecard"。广泛应用于内存、逻辑、消费、驱动、通讯IC等科技产品的晶圆测试,属半导体产业中相当席位的一环。当IC设计完成后,会下单给晶圆代工厂制作,晶圆制作完成后而尚未切割封装之际,为确保晶圆良率及避免封装的浪费,须执行晶圆电性测试及分析制程。探针卡预测试机构构成测试回路,与IC封装前,以探针测晶粒,筛选出电性功能不良的芯片,避免不良品造成后段造成品的浪费。随着半导体制程的快速进展,传统探针卡已面临测试极限,为满足高积密度测试,探针卡类型不断发展。探针卡的发簪前景及晶圆高科技设计的不断更新让人欢欣鼓舞,这表率科技的不断进步,但我们应看到探针卡依然面临不少挑战,比如探针成本不断增加,维修更换探针高科技人员的培养,通过有效控制测试机台在线清洁探针的频率及各种参数来提高探针卡使用寿命。总体来讲,晶圆探针卡的发展可谓机遇与挑战并存,需要高科技人员不断学习,跟上世界前列技术的步伐。 湖南好的测试探针卡品牌排行矽利康测试探针卡研发。

、探针与针套必须使用相同厂牌相互匹配。2、探针放入针套的时候必须使用特有的平口钳放入针套,预防针管变形使针管内的弹簧于管壁力变大,摩擦从而增大,则压力就变大,造成探针寿命变短和对所测试产品损坏。3、探针的针管顶端于针套的顶端必须是保持垂直(90°)针管低入针套,从而避免在工作中探针的探针行程避免过大,影响探针寿命和测试效果。4、探针在放入测试架前必须保持探针干净无其他杂物和脏东西,以免造成在测试过程中头部发黑,阻碍探针的正常工作,影响测试效果。5、探针测试次数达5万次时,建议使用(NSF认真)探针特有的清洁剂。6、针头与针管的行程在针头未工作的情况下的总长度1/2时已经达到1.8N的弹力,当行程在大于针头2/3时就达到2N(牛顿),逐而数之,全部压下则超出了探针的标准工作范围。影响探针的寿命。

    EVGroup企业技术总监ThomasGlinsner表示:“凭借20多年的纳米压印技术经验,EVGroup继续开拓这一关键领域,开发创新解决方案,以满足客户不断变化的需求。”“我们蕞新推出的纳米压印解决方案系列EVG7300将我们的SmartNIL全场压印技术与镜头成型和镜头堆叠结合在蕞先近的系统中,并具有市场上蕞精确的对准和工艺参数控制——为我们的客户提供前所未有的灵活性,以满足他们的行业研究和生产需求。”EVG7300系统在EVG的HERCULES®NIL完全集成的UV-NIL跟踪解决方案中作为独力工具和集成模块提供,其中额外的预处理步骤,如清洁、抗蚀剂涂层和烘烤或后处理,可以添加以针对特定的过程需求进行优化。该系统具有行业领仙的对准精度(低至300nm),这是通过对准台改进、高精度光学、多点间隙控制、非接触式间隙测量和多点力控制的组合实现的。EVG7300是一个高度灵活的平台,提供三种不同的工艺模式(透镜成型、透镜堆叠和SmartNIL纳米压印),并支持从150毫米到300毫米晶圆的基板尺寸。快速加载印模和晶圆、快速对准光学器件、高功率固化和小工具占用空间,使高效平台能够满足行业对新兴WLO产品的制造需求。 寻找测试探针卡哪家好。

    薄膜的沉积方法根据其用途的不同而不同,厚度通常小于1um。有绝缘膜、半导体薄膜、金属薄膜等各种各样的薄膜。薄膜的沉积法主要有利用化学反应的CVD(chemicalvapordeposition)法以及物理现象的PVD(physicalvapordeposition)法两大类。CVD法有外延生长法、HCVD,PECVD等。PVD有溅射法和真空蒸发法。一般而言,PVD温度低,没有毒气问题;CVD温度高,需达到1000oC以上将气体解离,来产生化学作用。PVD沉积到材料表面的附着力较CVD差一些,PVD适用于在光电产业,而半导体制程中的金属导电膜大多使用PVD来沉积,而其他绝缘膜则大多数采用要求较严谨的CVD技术。以PVD被覆硬质薄膜具有较多的度,耐腐蚀等特点。 苏州矽利康测试探针卡多少钱。山东测试探针卡哪家好

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美光主推HMC技术HMC(HybridMemoryCube)标准由美光主推,目标市场是较高的服务器市场,尤其是针对多处理器架构。HMC使用堆叠的DRAM芯片实现更大的内存带宽。另外HMC通过3DIC异质集成技术把内存控制器(memorycontroller)集成到DRAM堆叠封装里。以往内存控制器都做在处理器里,所以在较高的服务器里,当需要使用大量内存模块时,内存控制器的设计非常复杂。现在把内存控制器集成到内存模块内,则内存控制器的设计就较大地简化了。后面,HMC使用高速串行接口(SerDes)来实现高速接口,适合处理器和内存距离较远的情况(例如处理器和内存在两张不同的PCB板上)。相较而言,Wide-IO和HBM都要求处理器和内存在同一个封装内。江苏测试探针卡供应商

苏州矽利康测试系统有限公司在同行业领域中,一直处在一个不断锐意进取,不断制造创新的市场高度,多年以来致力于发展富有创新价值理念的产品标准,在江苏省等地区的仪器仪表中始终保持良好的商业口碑,成绩让我们喜悦,但不会让我们止步,残酷的市场磨炼了我们坚强不屈的意志,和谐温馨的工作环境,富有营养的公司土壤滋养着我们不断开拓创新,勇于进取的无限潜力,苏州矽利康测试系统供应携手大家一起走向共同辉煌的未来,回首过去,我们不会因为取得了一点点成绩而沾沾自喜,相反的是面对竞争越来越激烈的市场氛围,我们更要明确自己的不足,做好迎接新挑战的准备,要不畏困难,激流勇进,以一个更崭新的精神面貌迎接大家,共同走向辉煌回来!

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